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DIODES升降壓芯片集成電路在開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)和使用過(guò)程難免會(huì)有故障。隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的提高，故障分析變得越來(lái)越重要。通過(guò)芯片故障分析，芯片設(shè)計(jì)人員可以發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷、技術(shù)參數(shù)不一致、設(shè)計(jì)操作不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。

升降壓芯片故障分析的主要意義如下:

1、故障分析是確定ic芯片故障機(jī)理的重要手段和方法。

2、故障分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。

3、故障分析為設(shè)計(jì)工程師提供芯片設(shè)計(jì)的持續(xù)改進(jìn)，以滿足設(shè)計(jì)規(guī)范的需要。

4、故障分析可以評(píng)估不同測(cè)試方法的有效性，為生產(chǎn)測(cè)試提供必要的補(bǔ)充，并為測(cè)試過(guò)程的優(yōu)化和驗(yàn)證提供必要的信息。